Laboratorio Analitica delle Superfici

Espandi mappa
ATTENZIONE! Portale in fase sperimentale. Non è ancora possibile prenotare online servizi a pagamento con questo laboratorio.
Ente di Afferenza
Università degli Studi di Cagliari
Area / Struttura
Dipartimento di Scienze Chimiche e Geologiche
Sede
Cittadella Universitaria Monserrato
Responsabile Laboratorio
Antonella Rossi
Descrizione
Il laboratorio di Analitica delle Superfici si occupa dello studio di acciai inossidabili in ambienti aggressivi (analisi di superficie ed elettrochimica); dello studio sulla struttura elettronica, resistenza alla corrosione e stabilità di leghe nanocristalline Ni-P; dello studio della reattività chimica di superfici di minerali solfurei, carbonati e asbesti di interesse ambientale.
Vengono inoltre eseguite analisi XPS di polimeri per applicazioni biomediche e lo sviluppo dei metodi innovativi per l'analisi chimica della frazione respirabile del particolato (polveri fini PM10 PM1).
Attività rivolte alle imprese,
enti pubblici, cittadini
Prestazioni a pagamento
Convenzioni con Enti Pubblici
Partecipazione a progetti nazionali di ricerca in partenariato
Partecipazione a progetti internazionali di ricerca in partenariato
Didattica Universitaria
Didattica Scuole Superiori
Formazione
Attività rivolte ai ricercatori
Partecipazione a progetti nazionali di ricerca in partenariato
Partecipazione a progetti internazionali di ricerca in partenariato
Servizi del Laboratorio
Analisi di superficie
Servizio offerto all'esterno con tariffario: NO
Profili di composizione XPS e Auger di spessori nanometrici
Strumenti utilizzati: Analisi di superficie XPS, ARXPS, SAXPS, Microscopia a scansione e spettroscopia di elettoni Auger (SAM)
Analitica per risolvere problemi
Servizio offerto all'esterno con tariffario: NO
Analitica per risolvere problemi
Strumenti utilizzati: Microscopia ottica, Analisi di superficie XPS, ARXPS, SAXPS, Microscopia elettronica (SEM), Microscopia a scansione e spettroscopia di elettoni Auger (SAM), camera guanti per preparativa ed analisi in ambiente controllato
Caratterizzazione dei materiali
Servizio offerto all'esterno con tariffario: NO
Caratterizzazione dei materiali ed analisi di superficie
Strumenti utilizzati: Microscopia ottica, Analisi di superficie XPS, ARXPS, SAXPS, Microscopia elettronica (SEM) - Microscopia a scansione e spettroscopia di elettoni Auger (SAM)
Caratterizzazione dei materiali
Servizio offerto all'esterno con tariffario: NO
Caratterizzazione nano materiali e dispositivi elettronici
Strumenti utilizzati: Microscopia a scansione e spettroscopia di elettoni Auger
Prove di corrosione
Servizio offerto all'esterno con tariffario: NO
Durabilità dei materiali, prove di corrosione (anche sul campo)
Strumenti utilizzati: Misure del potenziale di corrosione, Misure potenziodinamiche per determinare la resistenza al pitting, Misure della velocità della corrosione, Misure dell' impedenza (rivestimenti organici, inibitori), Misure di conducibilità e resistività elettrica
Strumenti del Laboratorio
Camera a guanti MBraun Unilab
Glove box ad atmosfera inerte (azoto, argon) in acciaio inox (con finestra frontale a due guanti). Camera di trasferimento principale di diametro interno di almeno 350 mm e mini camera di passaggio di diametro interno di almeno di 150 mm. Sistema di purificazione del gas a circuito chiuso ad elevata capacità di rimozione di ossigeno e umidità. Mantenimento atmosfera inerte con ossigeno residuo e umidità relativa residua < 1ppm.
Frequency Response Analyzer (FRA) Solartron Analytical 1255 HF
Frequency Response Analyzer (FRA) per Misure d'impedenza
Potenziostato/galvanostato Princeton Applied Research EG&G Model 273A
Potenziostato / Galvanostato EG&G 273 interfacciato con PC per misure di potenziale vs tempo, curve potenziostatiche e curve potenziodinamiche, dotato di Frequency Response Analyzer (FRA) per Misure d'impedenza.
SPETTROMETRO XPS, AES, SAM, SEM, ISS VG Scientific ESCALAB MKII
Sorgente di raggi X a doppio anodo Al kα e Mg kα (0 - 15 kV, 0 - 20 mA, 300 W); Analizzatore emisferico (210 mm) con 5 channel electron multipliers. Sorgente di ioni di gas nobili per rimozione in situ di strati di contaminazione e di ossido (E = 0.5-10 keV); Sorgente di ioni di gas nobili per la registrazione di profili di composizione in funzione della profondità e per misure ISS (E = 0.5-5 keV); Sorgente di elettroni LEG200 per spettroscopia e microscopia Auger (3-10 keV); Pre-camera per l'introduzione rapida di campioni.
Modalità di accesso
Il laboratorio è disponibile su prenotazione.
Contatta il laboratorio
Dove si trova
Monserrato, Cittadella Universitaria Monserrato, S.S. 554 bivio per Sestu snc